1. DAA芯片功能详解:从校准到硬件设计的实战指南
在嵌入式通信设备,特别是调制解调器(Modem)的设计中,数据访问装置(DAA)是一个至关重要的接口模块。它的核心任务,是在你的数字系统(比如DSP或微处理器)和模拟的公共电话交换网(PSTN)之间,架起一座安全、可靠且符合法规的桥梁。简单来说,DAA负责把DSP产生的数字信号变成能在电话线上传输的模拟信号,同时把从电话线来的模拟信号干净地转换成数字信号送给DSP处理。但它的价值远不止于此——一个设计精良的DAA方案,直接关系到你的产品能否通过严苛的安规认证(如UL、CE)、能否在复杂的电磁环境下稳定工作,以及在生产线上能否被高效地测试和校准。
我经手过不少基于TI TMS320C54x DSP和Silicon Labs Si301x系列DAA芯片的Modem项目,从早期的V.90 56K猫到后来的传真机、金融POS机终端。这些项目让我深刻体会到,仅仅把原理图连对、程序调通,距离一个能批量生产、稳定出货的产品还差得很远。DAA的设计充满了细节,从寄存器配置的时序,到PCB上一条走线的长度,都可能成为后期调试的“噩梦”。本文将结合官方文档和实战经验,为你拆解DAA的核心功能——校准、测试、异常处理,并深入硬件设计的关键要点,希望能帮你避开那些我当年踩过的坑。
2. DAA核心功能模块深度解析
2.1 电源管理与上电序列:稳定运行的基石
DAA芯片通常包含系统侧(连接DSP)和线路侧(连接电话线)两个部分,两者通过高压隔离电容进行电气隔离。这种隔离是安全法规的强制要求,但也带来了复杂的上电和电源管理逻辑。
2.1.1 关键电源模式DAA一般支持多种电源模式以适应不同应用场景:
- 正常工作模式:所有功能全开,芯片处于活跃状态。
- 睡眠模式(Sleep Mode):通过设置PDN(Power Down)位进入。此模式下,大部分电路关闭以节省功耗,但关键的振铃检测(Ring Detect)功能通常保持工作,以便设备能被来电“唤醒”。这是Modem设备实现低功耗待机的关键。
- 深度睡眠模式(Deep Sleep Mode):同时设置PDN和PDL(Power Down Line-side)位。这是最彻底的省电模式,线路侧和系统侧模块都进入极低功耗状态,振铃检测功能也会关闭。这意味着设备无法响应来电,只能通过系统侧主动发起上电序列来恢复。这种模式适用于完全断电或需要极致省电的场景。
2.1.2 必须严格遵守的上电/唤醒序列从深度睡眠模式唤醒,或进行初始上电,不是一个简单的“给电就行”的操作。错误的时序会导致通信链路无法建立,甚至损坏芯片。一个可靠的上电序列应遵循以下步骤:
- 确保时钟就绪:在尝试给系统侧模块上电之前,必须先确保供给系统侧模块的时钟(通常是来自DSP或外部晶振的MCLK)已经稳定运行。这是很多新手容易忽略的第一步。
- 系统侧模块复位:在时钟稳定后,对系统侧模块施加一个有效的复位信号。这个复位操作会初始化芯片内部的逻辑状态。
- 配置寄存器:复位完成后,通过串行接口(如SPI或HPI)对DAA的控制寄存器进行编程,设置采样率、增益、工作模式等参数。这里有个关键点:在初始化阶段,PDL位默认是1(即线路侧断电)。此时,系统侧和线路侧之间的隔离通信链路是关闭的。
- 激活通信链路:将PDL位清零。这个操作会激活隔离通道,系统侧开始尝试与线路侧芯片建立通信。此时,你需要等待并检查FDT(Frame Detect)状态位。
- 检查链路状态:在清除PDL位后,系统侧会开始发送同步帧。如果线路侧芯片供电正常且隔离电容连接正确,它应该能回应。当通信链路同步成功,FDT位会被置1。实测经验:从清除PDL到FDT置位,通常在10ms以内。如果超过这个时间FDT仍为0,说明链路建立失败,需要检查线路侧供电、隔离电容C1/C4以及PDL位的写入操作是否正确。
注意:绝对不要在时钟不稳定或未复位的情况下就去配置寄存器或操作PDL位,这可能导致芯片进入不可预测的状态,有时只能通过完全断电重启来恢复。
2.2 校准机制:消除误差,保障动态范围
DAA内部的模数转换器(ADC)和数模转换器(DAC)的精度是整个系统信噪比(SNR)和动态范围的基石。然而,芯片制造工艺偏差、温度变化和电源噪声都会在ADC中引入直流偏移(DC Offset)。这个偏移会占用宝贵的信号量化范围,导致实际可用的动态范围缩水。DAA的校准功能就是为了自动消除这个偏移。
2.2.1 自动校准(Auto-Calibration)这是最常用的模式。在以下两种情况下,DAA会自动触发一次校准流程:
- 设备摘机(Off-Hook):当DAA控制继电器或等效电路连接到电话线时。
- 线路电源丢失后恢复:例如,电话线出现短暂中断后又恢复。
校准过程:校准通常在DAA的直流终端阻抗稳定后进行。其本质是让ADC在短时间内测量自身的零点误差。这个过程会持续512 / Fs 秒。其中Fs是你的系统采样率(例如8000 Hz)。因此,对于8kHz采样率,校准时间为512/8000 = 64毫秒。在这段时间内,ADC不会输出有效的音频数据,你的DSP或应用程序需要等待校准完成。
2.2.2 手动校准(Manual Calibration)及其应用场景虽然自动校准很方便,但在某些复杂或严苛的线路条件下,自动校准可能不是最优选择。这时就需要使用手动校准。
为什么要用手动校准?电话网络千变万化,不同国家的线路阻抗、噪声电平、直流馈电电压都有差异。某些极端情况下,自动校准触发的时机或结果可能不理想。手动校准允许开发者:
- 精确控制校准时机:可以在系统认为最“安静”或状态最稳定的时刻进行。
- 避免业务中断:在自动校准的64ms内,通信是中断的。对于某些实时性要求高的场景,可以通过手动校准在业务间隙进行,避免不可控的中断。
- 应对特殊线路:某些老旧的交换机或特殊的线路卡可能导致自动校准失效,手动校准可以作为备用方案。
手动校准操作步骤:
- 禁用自动校准:将CALD(Calibration Disable)控制位置1。
- 触发手动校准:将MCAL(Manual Calibration)位先写1,再写0(即产生一个上升沿脉冲)。这个“Toggle”操作是启动校准的命令。
- 等待完成:同样需要等待512 / Fs 秒。在此期间,不要进行任何数据传输或改变DAA的配置(如改变增益)。
- 校准后操作:校准完成后,即可开始正常的发送和接收数据。
实操心得:在开发调试阶段,我强烈建议在初始化代码中集成手动校准流程,并可以通过调试接口控制。这样,当你在实验室用线路仿真器模拟各种恶劣线路条件时,可以随时手动触发校准,并观察校准前后ADC采样数据(在无声输入时)的直流电平变化,非常直观。这能帮你快速判断校准是否生效,以及ADC的零点是否漂移。
2.3 测试模式:贯穿生产与诊断的生命线
DAA内置了多种环回测试模式,这是其设计的一大亮点。它允许你在不连接真实电话线的情况下,对从DSP到电话线接口的整个信号路径进行分段测试,极大方便了生产测试(ICT/FCT)和终端用户的故障诊断。
2.3.1 启动测试模式的前提除了“启动测试模式”,其他所有测试都需要一个前提:让DAA进入摘机状态。这是因为测试信号需要在线路侧形成回路,而摘机状态为线路侧芯片提供了工作电源。标准摘机序列如下:
- 上电或复位。
- 编程设定所需的采样率(Fs)。
- 清除PDL位,激活线路侧。
- 发出摘机命令。
- 延迟 1548 / Fs 秒。这个等待至关重要,是为了留出时间让线路侧电源稳定并完成可能的自动校准。对于8kHz采样率,约为193.5毫秒。
- 设置所需的测试模式位。
2.3.2 四种测试模式详解
| 测试模式 | 启用条件 | 测试路径 | 是否需要外部线路电源? | 用途与特点 |
|---|---|---|---|---|
| 启动测试 | PDL=1 (默认) | 系统侧数字环回:SDI -> 内部滤波器 -> SDO | 否 | 上电自检。验证系统侧DSP与DAA之间的数字接口、DAA内部数字滤波器是否正常。信号会有约0.9dB的固定衰减。 |
| 数字环回 | 设置 DL=1 | 系统侧 -> 隔离电容C1 -> 线路侧 -> 隔离电容C1 -> 系统侧 | 是 | 核心测试。验证整个隔离屏障(电容C1)的完整性以及数字信号跨隔离传输的可靠性。这是生产测试中必测项。 |
| 模拟环回 | 设置 AL=1 | 外部信号 -> TIP/RING -> 线路侧模拟前端 -> TIP/RING | 是 | 验证从RJ-11接口到线路侧芯片输入/输出模拟通路的元器件(如保护器件、滤波网络)是否正常。需要外部音频源和测量设备。 |
| 内部模拟环回 | 清除 HBE=0 | 系统侧 -> 隔离电容 -> 线路侧DAC -> 混合电路 -> 线路侧ADC -> 隔离电容 -> 系统侧 | 是 | 最全面的自检。测试了除外部保护电路外的几乎所有内部和外部模拟路径,包括混合电路、外部阻抗匹配网络(R/C)。 |
2.3.3 内部模拟环回的特别注意事项这是功能最强大的测试模式,但有一个重要的坑:当HBE位被清除以启用此模式时,混合电路(Hybrid)被禁用,这会在发送信号路径上引入一个直流偏移。
- 后果:这个直流偏移会占用发送驱动器的动态范围,如果仍以正常的信号幅度发送测试音,极易导致信号被削顶(Clipping),产生失真。
- 解决方案:在此模式下进行测试时,必须将发送信号的幅度降低至少12dB。例如,如果你的正常发送电平是-10dBm,那么测试时应使用-22dBm的电平。同时,测试中应假设线路阻抗为标准的600Ω。
警告:所有测试模式是互斥的。切勿同时设置多个测试模式位(如DL和AL同时为1),否则DAA的行为将是未定义的,可能导致测试结果错误甚至损坏设备。
2.4 异常处理与状态监控:构建鲁棒的系统
通信设备最怕的就是“哑巴”故障——设备坏了,但不知道坏在哪里。DAA通过串行链路辅助帧中的一系列状态位,为开发者提供了丰富的诊断信息。
2.4.1 核心状态位:帧检测(FDT)FDT位是整个DAA通信链路健康度的总指示灯。
- 含义:FDT=1表示系统侧模块与线路侧设备之间的数字通信链路同步正常。FDT=0表示链路中断。
- 上电后的行为:复位后,由于PDL默认为1(线路侧断电),FDT为0。只有在编程了采样率并清除PDL位后,系统才会尝试建立链路,FDT才可能变为1。
- 在摘机操作中的应用:这是FDT最关键的应用之一。当你发出摘机命令后,必须监控FDT位。如果摘机成功(线路侧正确连接到有源的电话线),FDT应在10ms内置1。如果FDT保持为0,最可能的原因是电话线未连接、线路侧供电故障,或隔离电容损坏。此时,系统应报错“无线路连接”,而不是盲目尝试拨号。
- 依赖关系:只要FDT为0,所有其他反映线路侧状态的信息位(如RDT-振铃检测、LVCS-环路电流、OVL-过载等)都是无效的。在读取这些状态前,必须先判断FDT是否为1。
2.4.2 其他关键状态与错误指示
- 通信链路错误(CLE):该位置1表示链路发生了超时错误。这通常意味着严重的编程错误(如配置了不支持的采样率)、时钟问题,或者线路侧芯片可能已损坏。一旦CLE置位,通常需要复位整个DAA模块。
- 环路电流状态(LVCS[4:0]):在FDT有效的前提下,这5个位提供了粗略的环路电流值。这对于检测线路状态(如短路、开路)非常有帮助。例如,摘机后LVCS读数极低,可能意味着线路阻抗异常高(长线)或接触不良。
- 过载检测(OVL):指示接收通道的模拟输入信号是否过强,导致ADC饱和。这在有强干扰或线路故障时可能出现。
2.4.3 异常处理流程建议一个健壮的DAA驱动应包含以下状态机逻辑:
- 初始化后:检查FDT。如果清除PDL后超过15ms FDT仍为0,则记录错误“DAA链路初始化失败”,并尝试重新初始化或报告硬件故障。
- 摘机操作时:发出摘机命令,启动一个10-15ms的定时器。定时器超时前检查FDT。
- 若FDT置1,读取LVCS判断环路电流是否正常范围,然后进行后续操作(如拨号音检测、拨号)。
- 若FDT仍为0,则执行恢复操作:先将PDL位置1至少1ms以复位线路侧,然后再清除PDL尝试重新建立链路。如果连续失败数次,则上报“线路连接失败”。
- 通信过程中:定期(例如每秒)或在进行关键操作前检查FDT和CLE。如果FDT突然变0或CLE置1,应中断当前操作(如挂断通话),复位DAA链路,并尝试恢复或上报严重错误。
3. 硬件设计实战指南:从原理图到PCB布局
3.1 安全与法规遵从性设计
DAA硬件设计的首要原则是安全,必须满足目标市场的安规要求,如UL(北美)、CE(欧盟,包含EN55022)等。
3.1.1 过压保护与UL1950电话线是暴露在外的长距离线路,极易遭受雷击感应浪涌或电力线碰触等过压事件。参考设计中使用的Sidactor(RV1,如Teccor P3100SB)就是关键的一级保护器件。
- 布局要点:RV1必须尽可能靠近RJ-11接口,其前端(连接TIP/RING)和后端(连接内部电路)的走线要短而粗,以确保浪涌电流能迅速被疏导到地,而不是窜入后续电路。
- 铁氧体磁珠(FB1, FB2)的放置:图3-61展示了两种能通过UL1950过压测试的配置,区别在于磁珠放在保护器件RV1的前面还是后面。
- 磁珠在RV1外侧(靠近RJ-11):此时磁珠会承受浪涌大电流,因此必须选用额定电流足够大的型号(如6A),否则可能饱和或损坏。大电流磁珠的高频阻抗通常较低,对抑制电磁干扰(EMI)的效果较弱。
- 磁珠在RV1内侧(靠近DAA芯片):浪涌电流被RV1短路到地,不流经磁珠。因此磁珠可以选用小电流(如200mA)、高阻抗的型号,对高频噪声的滤波效果更好。这是更推荐的做法,既能保证安全,又能优化EMC性能。
3.1.2 电磁兼容性与CISPR22/EN55022CISPR22/EN55022是欧盟等地区强制性的电磁辐射标准。DAA作为数字和模拟的混合体,且通过长线连接,是辐射和传导发射的重点源头。
- 关键元件L1/L2:原理图中的L1和L2(330µH电感)与C24/C25构成共模扼流圈,是抑制差模和共模噪声的关键。如果产品不销往采用CISPR22的地区,L1/L2可以用0Ω电阻或100nH的小电感(针对印度市场)替代,同时C9需改为22nF。
- 布局对称性:从RJ-11到FB1/FB2,再到L1/L2,最后到C24/C25的走线,必须严格对称、等长。任何不对称都会导致共模噪声转化为差模噪声,大大降低滤波效果。走线建议使用20mil或更宽的线宽以降低阻抗。
- 接地与隔离:C24和C25的接地端必须连接到干净、低阻抗的机壳地(Chassis GND)或保护地(PE),并且连接点应尽量靠近RJ-11接口。这个接地点必须与数字地(DGND)通过规定的安全距离(如2.5mm)隔离开。
3.2 参考设计原理图关键点剖析
以Si3016线路侧芯片的参考设计(图3-64)为例,几个关键电路需要特别关注:
3.2.1 线路侧供电与稳压
- C6和C16:分别是VREG和DCT/REXT2引脚的退耦电容。官方强调,这两个电容到芯片引脚(C6到Pin3&9,C16到Pin3&10)的环路面积必须尽可能小。环路面积大会引入寄生电感,影响高频噪声的滤除效果,可能导致芯片工作不稳定。布局时应将它们紧贴芯片相应引脚放置。
- Q4(BCP56T1):这是一个中功率NPN晶体管,用于线路侧电路的供电调整,在某些工作状态下(如高环路电流)功耗可能达到0.5W。必须为其设计足够大的散热铜皮。参考设计建议在PCB顶层和底层都为Q4预留100mm²的铜区,并通过过孔阵列连接,以帮助散热。
3.2.2 混合电路与发送/接收滤波
- C12, C13, R11:这些元件与芯片内部运放构成了发送通道的滤波和放大网络。这部分电路的布局对模拟性能(频响、失真度)影响极大。
- 高增益环路:Pin15->C12->Pin1 (QE2) 和 Pin16->C13->Pin1 这两个环路是高增益模拟环路。它们的走线必须极短且直接,远离任何数字信号或电源噪声。
- 单独走线:从Q4发射极到Pin1 (QE2) 的走线承载了相对较大的电流,绝不能与C12、C13的敏感走线共享路径,否则电流波动会耦合噪声进去。
3.2.3 隔离电容接口
- C1和C4:这是系统侧(SELV)与线路侧(TNV)之间唯一的电气连接,通过电容耦合传输数据和时钟。它们决定了隔离性能。
- 匹配要求:在未接地的系统中,为了抑制50/60Hz工频干扰,C1和C4的容值必须严格匹配(建议误差<10%)。同样,C24和C25也需要匹配。不匹配会导致共模干扰转化为差模干扰,恶化语音质量。
- 布局:C1和C4应靠近DSP和Si3016的隔离引脚放置,走线短而粗(建议20mil)。它们的接地端应分别连接到数字地(DGND)和线路侧地(IGND),并且这两个“地”必须在物理上严格隔离。
3.3 PCB布局黄金法则
3.3.1 分区与间距:安全的红线这是DAA布局中最不能妥协的部分。
- TNV与SELV的隔离:电话网络电压(TNV)区域(包含Si3016、RV1、L1/L2、C24/C25及相连走线)与安全特低电压(SELV)区域(DSP、数字电路及其地平面)之间必须保持最小2.5mm(国际标准),强烈建议使用3mm的净空距离。对于需要承受5kV隔离测试的设计,间距应增加到5mm。
- L1/L2带来的额外间距:当使用了L1和L2电感后,在浪涌测试时,电感两端会产生很高的电压差。因此,需要额外增加一个间距要求:电感L1/L2连接RV1/FB的一端,应与连接内部电路的另一端节点之间,保持至少2.0mm的间距,防止内部电弧放电。
- 敏感节点的特殊保护:对于线路侧芯片的敏感模拟引脚,如RX(接收)、FILT(滤波)、FILT2(滤波2),建议与SELV区域保持5mm以上距离。如果因结构限制无法做到(如在Mini PCI卡上),可以采用以下“护城河”策略:
- IGND Guard Ring:在PCB上,用IGND走线在这些敏感节点周围画一个保护环,将SELV区域隔开。干扰会先耦合到IGND环上,而不是直接进入敏感信号线。
- Faraday Shield:在多层板中,可以在敏感信号层与SELV地平面之间,插入一个由IGND网络填充的中间层,作为一个静电屏蔽层。
3.3.2 模拟性能布局
- IGND的处理:线路侧地(IGND)不要铺成完整的平面。官方建议使用一条20mil宽的走线作为IGND的主干,所有线路侧元件的接地都星型连接到这条主干上。这样可以避免地平面环流引入噪声。同时,较宽的走线也有助于Q4等元器件的散热。
- 数字地平面最小化:在DAA模块区域,数字地平面应被“挖空”或收缩,仅提供必要的返回路径即可。地平面边缘应圆滑,避免尖角成为辐射天线。
3.3.3 热设计考量如前所述,Q4晶体管是主要热源。除了加大散热铜皮,布局时还应避免在Q4下方或附近放置对温度敏感的器件(如精密电阻、某些电容)。良好的通风也有助于散热。
4. 生产测试与调试实战技巧
4.1 利用测试模式构建产测方案
在生产线上,你需要快速验证每一块板卡的DAA功能是否完好。利用DAA内置的测试模式,可以设计出高效的非信令测试(No-Signal Test)。
- 上电自检(启动测试):板卡上电后,DSP可自动读取芯片版本号(REVA/REVB),并运行一次数字环回测试(PDL=1时的默认模式)。向SDI发送一个已知的伪随机序列(如PN码),在SDO接收并比对。这可以快速验证DSP与DAA之间的数字链路、DAA电源和基本时钟是否正常。
- 隔离屏障测试(数字环回模式):这是必做项。控制DAA进入摘机状态(需要模拟线路供电),然后启用DL=1模式。发送全带宽的测试信号(如扫频信号或满幅度的数字正弦波),接收后计算误码率(BER)或信噪比(SNR)。这个测试能有效发现隔离电容C1虚焊、损坏,或芯片内部隔离接口故障。
- 模拟通路基础测试(内部模拟环回模式):在摘机且连接标准600Ω负载的条件下,启用内部模拟环回(HBE=0)。切记将发送电平降低12dB。发送一个1kHz的-22dBm正弦波数字信号,接收回来后分析其频率、幅度和总谐波失真(THD)。这个测试能验证整个模拟信号链(DAC、混合电路、ADC)的基本性能。
4.2 常见故障排查速查表
| 故障现象 | 可能原因 | 排查步骤 |
|---|---|---|
| 上电后FDT始终为0 | 1. 线路侧无供电 2. 隔离电容C1/C4损坏或未焊接 3. 采样率配置错误 4. Si3016芯片损坏 | 1. 测量Si3016的VREG引脚电压(应为~5V)。 2. 检查C1, C4的焊接和容值。 3. 确认DSP写入DAA的采样率寄存器值是否在支持范围内(如8k, 9.6k Hz)。 4. 检查PDL位写入操作是否正确(先写1再写0)。 |
| 摘机后FDT不置位 | 1. 电话线未连接或线路无馈电 2. 摘机控制电路故障(如Q1, Q2) 3. 保护器件RV1击穿短路 | 1. 在TIP/RING端测量直流电压(应有20-50V)。 2. 检查控制摘机的三极管Q1, Q2及其偏置电阻(R5, R6)是否正常。 3. 测量RV1两端电阻,正常应为高阻(兆欧级)。 |
| 通信中有严重噪声或失真 | 1. 校准未执行或失效 2. 模拟部分退耦不良(C6, C16环路大) 3. 混合电路元件(C12, C13, R11)参数偏差或布局不佳 4. C1与C4, C24与C25容值不匹配 | 1. 在无声时读取ADC采样值,看是否有大的直流偏移。尝试手动校准。 2. 用示波器探头(接地弹簧要短)测量C6, C16两端的高频噪声。 3. 检查C12, C13, R11的焊接和值。 4. 用精密电桥测量C1/C4, C24/C25的配对误差。 |
| 无法通过EMC辐射测试 | 1. L1/L2布局不对称 2. C24/C25接地不良 3. 隔离电容C1/C4走线过长 4. 数字地平面噪声过大 | 1. 检查从RJ-11到L1/L2的走线是否完全对称、等长。 2. 确保C24/C25的接地端通过宽短线连接到机壳地。 3. 缩短C1/C4到芯片引脚的走线。 4. 在DSP时钟信号线上串联小电阻(22-33Ω),并在晶振电路周围加地线包围。 |
| 在未接地系统中有交流哼声 | C1与C4容值严重不匹配 | 更换为容值匹配度在5%以内的Y2安规电容。 |
4.3 调试工具与小技巧
- 示波器是眼睛:一个带宽足够的示波器至关重要。重点观察点:
- Si3016的CLKOUT:确认线路侧时钟是否正常。
- 隔离电容C1两端的信号:应该能看到约2MHz的差分数字信号。如果信号幅度很低或失真,说明隔离通道有问题。
- QE2(Pin1):这是发送信号的输出节点,可以观察发送的模拟波形质量。
- 逻辑分析仪/协议分析仪:用于抓取DSP与DAA之间的控制串行数据(如McBSP),确认寄存器读写时序和值是否正确。
- 线路仿真器:这是开发Modem的必备工具。它可以模拟各种线路条件(长度、噪声、回声),让你在实验室就能验证DAA在不同信道下的性能,远比接真实电话线可靠和高效。
- 热成像仪:在长时间满负荷测试时,扫描整个板卡,特别是Q4和Si3016芯片,检查是否有局部过热现象。
DAA的设计是一个融合了模拟电路、数字逻辑、安全规范和EMC技术的综合性工程。它没有太多“黑科技”,但每一个细节都关乎最终的成败。我的经验是,严格按照参考设计做原理图,极度重视PCB布局的对称性、隔离度和热设计,在软件驱动中完善状态监控和错误恢复机制,最后借助丰富的测试模式进行充分验证。把这些基础打牢,你的通信设备就成功了一大半。剩下的,就是与复杂的现实电话网络环境做斗争了,而那又是另一个充满挑战和乐趣的故事。